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YDJ系列工頻耐壓測試儀耐壓測試有兩種：一種是交流工頻耐壓測試, 另一種是直流耐壓測試。由于絕緣材料的特性決定了交流和直流電壓的擊穿機理不同。大多數絕緣材料和系統都包含了一系列不同的介質(zhì)。當對之施加交流試驗電壓時(shí)，電壓將按材料的介電常數和尺寸等參數的比例來(lái)分配電壓。而直流電壓只按材料的電阻的比例來(lái)分配電壓。而且實(shí)際上，絕緣結構發(fā)生擊穿，往往是電擊穿，熱擊穿，放電等多種形式同時(shí)存在，很難截然分開(kāi)。而交流電壓比直流電壓增加了熱擊穿的可能性。

所以，我們認為交流耐壓測試比直流耐壓測試更加嚴格。實(shí)際操作中，在進(jìn)行耐壓測試時(shí)，如果要使用直流做耐壓測試時(shí)，試驗電壓要求比交流工頻的試驗電壓高。一般直流耐壓測試的試驗電壓是通過(guò)把交流試驗電壓的有效值乘以一個(gè)常數K。

通過(guò)電纜工頻耐壓測試儀對比測試，我們有如下的結果：電線(xiàn)電纜產(chǎn)品，常數K選用3； 航空工業(yè)，常數K選用1.6 至1.7；CSA對民用產(chǎn)品一般使用1.414。

型式試驗和工廠(chǎng)測試

型式測試是用來(lái)判斷產(chǎn)品的絕緣結構設計是否符合實(shí)際使用。通常是在溫升測試，潮態(tài)測試，異常測試和其它的一些測試后立即進(jìn)行。一般是對產(chǎn)品施加試驗電壓一分鐘。

工廠(chǎng)測試是檢測生產(chǎn)過(guò)程的生產(chǎn)缺陷，不是檢測絕緣結構的設計是否合理。通常是產(chǎn)品完成后準備包裝前進(jìn)行的。產(chǎn)品絕緣結構的缺陷通常會(huì )有如下的情況：鋒利的部件損傷了電線(xiàn)絕緣層，連接線(xiàn)－地間或初級－次級間的電子元器件給短路了，電線(xiàn)的焊接點(diǎn)焊的不好或脫落了，爬電距離減少了，變壓器內的絕緣損壞了等等。為了適應大批量生產(chǎn)，工廠(chǎng)測試還可以將試驗電壓值提高20％，試驗時(shí)間由1分鐘縮短到1秒鐘。

耐壓測試和擊穿測試

標準中會(huì )測試時(shí)的具體電壓數值。電纜工頻耐壓測試儀經(jīng)過(guò)耐壓測試只能說(shuō)明產(chǎn)品的絕緣結構能承受該試驗電壓，而不能說(shuō)明產(chǎn)品的絕緣結構究竟能承受多高的電壓。如果在進(jìn)行絕緣材料的應用研究和電器設備的設計，需要測定絕緣強度時(shí)，就需要進(jìn)行擊穿測試。擊穿測試就是測試電介質(zhì)被擊穿時(shí)的電壓。當電場(chǎng)強度超過(guò)某一極*，通過(guò)介質(zhì)的電流與施加于介質(zhì)的電壓關(guān)系就不符合歐姆定律，而是突然增加。如圖1所示。這時(shí)絕緣材料被破壞而失去了絕緣性能。對于一臺電氣產(chǎn)品，如果其絕緣發(fā)生了擊穿，它就失去了運行使用功能。這結果與耐壓測試*不同。耐壓測試是要通過(guò)測試來(lái)保證產(chǎn)品沒(méi)有缺陷，能安全正常的工作。所以，耐壓測試的測試電壓是經(jīng)過(guò)實(shí)踐證明是安全、可靠、有效的，應該嚴格按其執行。我們到工廠(chǎng)進(jìn)行工廠(chǎng)審查時(shí)，有些工廠(chǎng)為了顯示其產(chǎn)品的質(zhì)量好把耐壓測試的電壓特別提高，有的甚至提高到所要求的兩倍。這樣做是有百害無(wú)一益的。因為第一、這樣做有可能降低了產(chǎn)品的合格率。第二、雖然通過(guò)了測試，有可能損害了一部分絕緣結構，使產(chǎn)品的安全性降低。第三、有可能損壞一些元器件，使產(chǎn)品的質(zhì)量降低，壽命減短。

經(jīng)常有人提“多大的漏電流就認為是耐壓擊穿了？"的問(wèn)題。其實(shí)這個(gè)漏電流很難精確確定。因為當高壓施加到產(chǎn)品時(shí)，會(huì )在絕緣間產(chǎn)生一個(gè)穩定的微小漏電流。由于每種產(chǎn)品復雜程度和絕緣結構都不同，這個(gè)漏電流會(huì )隨之變化。當絕緣給擊穿時(shí)，這個(gè)漏電流將迅速增加。如圖1所示。所以一般情況下，只要將此耐壓測試儀器的過(guò)電流繼電器動(dòng)作電流(即是漏電流)設定為比產(chǎn)品正常施加高壓時(shí)而產(chǎn)生的漏電流稍高就行了。請注意，這里的電纜工頻耐壓測試儀漏電流與泄漏電流測試(Leakage Current Test)中的泄漏電流在本質(zhì)上是一樣的，都是絕緣系統在電壓的作用下產(chǎn)生的極微小的電流。它們的不同之處在于耐壓測試中的漏電流是在高壓的情況下產(chǎn)生的，而泄漏電流測試中的泄漏電流是在額定電壓下產(chǎn)生的。