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測試介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品說(shuō)明
測試介質(zhì)損耗測試儀因數在預防性試驗中的項目。因為電氣設備介質(zhì)損耗因數太大,會(huì )使設備絕緣在交流電壓作用下,許多能量以熱的形式損耗,產(chǎn)生的熱量將升高電氣設備絕緣的溫度,使絕緣老化,甚至造成絕緣熱擊穿。
絕緣能力的下降直接反映為介質(zhì)損耗因數的增大。進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因,如:絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。
所以,在出廠(chǎng)試驗時(shí)要進(jìn)行介質(zhì)損耗的試驗,運行中的電氣設備亦要進(jìn)行此種試驗。測量介質(zhì)損耗的同時(shí),也能得到試品的電容量。電容量的明顯變化,反映了多個(gè)電容中的一個(gè)或幾個(gè)發(fā)生短路、斷路。
介質(zhì)損耗測試儀在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量電介質(zhì)的損耗。
當電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ,Ψ的余角δ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角正切。
tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數。儀器測量線(xiàn)路包括一標準回路(Cn)和一被試回路(Cx)。
標準回路由內置高穩定度標準電容器與測量線(xiàn)路組成,被試回路由被試品和測量線(xiàn)路組成。測量線(xiàn)路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉換器組成。
上海蘇霍通過(guò)測量變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀電路分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位等,再由單片機運用數字化實(shí)時(shí)采集方法,通過(guò)矢量運算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。
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